电气性能测试完成后，开始对芯片进行老化测试老化后，再进行一次逻辑分析测试，并选取至少5%的芯片进行综合性能测试，主要是观察芯片的软件功能供设计修改参考 产品的编程软件的测试通常不在制造过程测试，我将在产品应用过程的测试中叙述；MIPS芯片是一种基于精简指令集RISC的微处理器架构，最初由美国斯坦福大...